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半导体冷热冲击试验箱

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商品信息

 冷热冲击试验机是一种具有温度控制功能的设备,通过快速改变温度来模拟芯片在不同环境下的工作状态。它可以迅速将芯片从较低温度迅速加热到较高温度,或者相反。这种温度的迅速变化可以导致材料的膨胀和收缩,从而引发物理和化学性质的改变。通过在冷热冲击箱中进行长时间的测试,科学家们可以模拟芯片在不良条件下的工作情况,以便评估其性能和可靠性。

半导体冷热冲击试验箱在冷热冲击箱中进行的测试通常包括冷冻、加热和恒温三个阶段。首先,芯片会被暴露在较低温度的环境中,来模拟在寒冷的气候下工作时的情况。然后,温度会迅速上升到较高的水平,来测试芯片在高温环境下的稳定性和性能。至后,在恒温条件下进行长时间测试,来模拟芯片在常温环境下的工作情况。通过这一系列的测试,科学家们可以综合评估芯片在不同温度下的性能和可靠性,为电子设备的开发和制造提供重要的参考依据。

温度程控器:液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中、英文表示.7.5"之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器。

a.控制器规格:精度:±0.1℃+1digit.分辨率:±0.1.

具有上下限待机及警报功能.

温度入力信号:T型感温线.P.I.D控制参数设定,P.I.D自动演算.

b.画面显示功能:采用图控软件画面对谈式,无须按键输入,屏幕直接触摸选项:

包括程序设定、曲线显示、历史数据、手动运转、自动运转、辅助设定等.

可显示目前执行状态、温度设定值、时间设定值、剩余时间、剩余循环次数

具单独程序编辑画面,可输入温度,时间及循环次数.

温度程序具实时显示程序曲线执行功能

显示故障状态及说明故障排除方法

屏幕可作背光调整,屏幕显示保护功能可作定时,关闭设定.

中、英文可相互切换.

c.程序容量及控制功能:

可使用的程序组:96个PATTEN(即96个试验规范可独力设定并储存)。

可重复执行命令:可达999次。LSEGMENTS时间设定0~99Hour59Min。

程序之制作采对谈式设定功能。

9组程序相互连接功能.

具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能。

高低温冲击时自动补偿温度功能.

程序执行时可实时显示图形曲线。

除霜时间、次数及除霜温度设定及执行功能.

具有预约启动及关机功能.

具有日期,时间调整功能.

 

半导体冷热冲击试验箱主要配置:

1、内箱材质采用SUS304不锈钢板,外箱材质采用SEEC钢板外加静电喷涂或不锈钢拉丝板,增加外观质感及洁净度,造型美观大方。

2、箱体保温层采用高强度PU及保温棉,达到优良的保温效果。

3、试验箱配置50mm,测试孔,配发泡硅胶塞密封,可外接测试电源线或信号线使用。

4、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮,附水平脚。

5、7英寸温湿度控制器,具有操作简单,易学,控制精度高,PID模式,可10%以上。

6、可以独立设定高温、低温、冷热冲击三种不同条件,具备高低温试验机的功能。

7、可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成。

8、具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制。

9、温度恢复时间为5分钟内完成。

10、运转中发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障原因,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

11、可选配USB接口存储方便,到有标准的RS-232或RS-485计算机通讯接口。实现远程控制。

 

半导体冷热冲击试验箱规格技术参数:

型号:BY-260D

规格(容量):63升

测试区尺寸:400*350*350(W*D*Hmm)

外形尺寸(约):1500*1450*1900(W*D*Hmm)

规格(容量):80升

测试区尺寸:500*400*400(W*D*Hmm)

外形尺寸(约):1600*1500*2000(W*D*Hmm)

规格(容量):150升

测试区尺寸:600*500*500(W*D*Hmm)

外形尺寸(约):1700*1600*2000(W*D*Hmm)

规格(容量):225升

测试区尺寸:500*600*750(W*D*Hmm)

外形尺寸(约):1800*1800*2000(W*D*Hmm)

规格(容量):500升

测试区尺寸:800*800*800(W*D*Hmm)

外形尺寸(约):2600*1900*2000(W*D*Hmm)

规格(容量):1000升

测试区尺寸:1000*1000*1000(W*D*Hmm)

外形尺寸(约):2800*2000*2200(W*D*Hmm)

高温储热范围:+60℃--+200℃

低温储冷范围:-10℃~-55℃(A型),-10℃~-65℃(B型),-10℃~-75℃(C型)

试验范围:

高温:+60℃~+150℃

低温:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)

升温时间:+60℃~+200℃约需25min

降温时间:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;

风门切换时间:小于或等于10S

温度恢复时间:5min

温度波动:±0.5℃

温度偏差:±2℃

免费送货上门,并安装调试操作介绍,同时进行机器操作技术培训。(直到需方员工独立操作并满意为止)。

本产品符合GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等国家标准。

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供应商档案

北京普桑达仪器科技有限公司
会员类型: 星级
所在地区: 北京
企业认证: 认证商家
主营产品: 高温老化房,步入式恒温恒湿试验室,步入式高低温试验室,步入式药品稳定性试验室 展开全部
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